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电子器件PCB板冷热冲击试验箱老化测试

发布日期:2021年04月02日 浏览量:88

      电子器件PCB板老化测试就是在一定的条件下使电路板通电工作一定时间后,电路板上面的一些元件参数就会发生变化,这种变化和电路板的使用的时间有关,这对于一些比较特殊的电路板来说,是不允许的,所以很多电子器件PCB板在出厂之前就需要做冷热冲击试验箱老化测试,下面我们来看看具体测试方法吧~

冷热冲击快速温变试验箱

电子器件PCB板冷热冲击老化测试方法:

一、冷热冲击测试法:把设备温度调至-40~+55℃,然后产品置于-40~+55℃之间产生交替的变化,并且可能长时间处于工作状态,那么这样长时间的工作和老化测试来考量电路板的整体稳定性和质量。

高低温温度冲击箱

二、热老化条件:设备温度范围为0~60℃,可自行选择,恒定为50℃,老化时间至少为72小时。电路板要处于运行状态,每隔2小时进行功能测试,连续重复3-7次,直到规定的老化时间。

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